Synchrotron X-Ray Microfluorescence and Microspectroscopy: Application and Perspectives in Materials Science
Microfluorescence et microspectroscopie X par rayonnement synchrotron : applications et perspectives en sciences des matériaux
1
European Synchrotron Radiation Facility (ESRF)
2
Laboratoire de Sciences de la Terre, ENS
3
CEA - DRFMC/SP2M/NRS
Corresponding author: bohic@esrf.fr
Recent developments in synchrotron storage ring technology, insertion device design and X-ray optics provide polarized photon beams with unprecedented intensity and brilliance on a microscopic area. Various arrangements allow micrometer size hard X-ray beams with enough flux to undertake elemental mapping of trace elements then easily associated with micro-diffraction or micro-extended X-ray absorption fine structure studies on the very same sample region of interest. These analytical possibilities and the sensitivity and accuracy of the achieved analysis can complement or surpass other available instrumental micro-analytical methods. Such microprobes are becoming a very interesting tool for material characterization.
Résumé
Les récents développements technologiques concernant les sources synchrotron, les éléments d'insertion et l'optique X permettent d'obtenir des faisceaux de photons fortement polarisés et d'extrême intensité, focalisés sur une zone microscopique. Différent arrangements expérimentaux permettent d'obtenir un faisceau micrométrique dans le domaine des rayons X durs avec suffisamment de flux pour réaliser des cartographies d'éléments à l'état de traces. Il est aisé d'y associer des études de micro-diffraction et de microspectroscopie d'absorption X sur une même zone d'intérêt de l'échantillon. Ces possibilités analytiques, la sensibilité et la rapidité des mesures effectuées peuvent compléter ou surpasser celles des techniques de microanalyses actuellement disponibles. Ce type de microsonde devient un outil particulièrement intéressant notamment dans le domaine de la caractérisation des matériaux.
© IFP, 2005